2015年1月29日，第15次AgriPheno论坛在上海浦东孙桥现代农业园区圆满结束。来自荷兰KeyGene公司的数字化植物表型主管Marco van Schriek先生做了题为“Exploitation of digital phenotype markers forprediction of Brassica napusfield seed yield”的报告。来自中科院植生所、中科院植物逆境中心、中国农科院生物所、上海交通大学、同济大学、上海农科院、云南烟科院等单位的科研人员参加了本次论坛。

在报告中，Marco介绍了Keygene公司在植物表型研究领域的技术进展，以“利用植物早期表型测定预测油菜产量”为例，分享了植物表型测量对于育种方向和过程的指导意义。随着各类作物基因组测序完成，对于基因型研究越来越深入，而关于植物表型及其控制基因型之间的关联的研究较少。目前，对表型的测量通常通过肉眼进行，对于像颜色等难于正确识别的性状，需要一个更加客观的测量和记录工具。

Keygene研究团队通过测量油菜幼苗的叶片性状、大小、株高等表型参数，对每株油菜幼苗每天同一角度进行表型图像采集，形成油菜植株电子化的生长表型的信息库。通过从图像到植物数字表型的统计和关联分析，对油菜产量进行预测，并通过大田实验验证，得到了理想的数据关联性。

讲座结束后，参加论坛各单位研究人员就各自研究领域的表型测定与Marco进行了深入交流，尤其对于目前表型测定研究热点进行了热烈探讨。

关于“AgriPheno论坛”
“AgriPheno论坛”是由高通量植物基因型-表型-育种服务平台AgriPheno推出的一个学术交流活动平台，旨在促进国内外相关学者、育种家、发明家和应用科学家与AgriPheno平台和上海的农业科技人员之间的交流、互动。该论坛不定期于AgriPheno平台（上海市浦东新区沔北路185号孙桥现代农业园C9-1）举行，每次会提前通过网站、微信等渠道发布通知。我们诚挚邀请相关学者、育种家、发明家和应用科学家在访问AgriPheno平台时通过讲座报告的形式参与该论坛；我们热诚欢迎相关科研人员和研究生参与论坛的交流活动。